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X-RAY射線鍍層測厚儀 牛津儀器

簡要描述✘│•↟│:X-RAY射線鍍層測厚儀 牛津儀器是無損測厚儀◕✘,有著非破壞◕✘,非接觸◕✘,多層合金測量◕✘,快速簡潔只需要10秒即可得出測量結果◕✘,是質量控制◕✘·▩₪、節約成本的Z佳檢測工具·✘◕。奔藍科技供應英國牛津儀器所有零配件✘│•↟│:
鍍層測厚儀類✘│•↟│:牛津光管◕✘·▩₪、高壓包◕✘·▩₪、接收器◕✘·▩₪、鍍層標準片◕✘·▩₪、Z軸控制板◕✘·▩₪、24V電源等·✘◕。·✘◕。·✘◕。
銅厚測厚儀類✘│•↟│:孔銅探頭◕✘·▩₪、面銅探頭◕✘·▩₪、孔銅標準片◕✘·▩₪、面銅標準片等·✘◕。·✘◕。·✘◕。

  • 產品型號✘│•↟│:MAXXI 5
  • 廠商性質✘│•↟│:生產廠家
  • 更新時間✘│•↟│:2022-10-13
  • 訪  問  量✘│•↟│:752

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詳細介紹

X-RAY射線鍍層測厚儀 牛津儀器  

產地✘│•↟│:英國      型號✘│•↟│:MAXXI 5     品牌✘│•↟│:牛津儀器OXFORD

      牛津MAXXI5系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料塗/鍍層測量儀器◕✘,可應用於材料的塗/鍍層厚度◕✘·▩₪、材料組成◕✘·▩₪、貴金屬含量檢測等領域◕✘,為產品質量控制提供準確◕✘·▩₪、快速的分析·✘◕。基於Windows 7中文視窗系統的中文版X - MasteR FP應用軟體包◕✘,實現了對MAXXI 5主機的全面自動化控制◕✘,分析中不需要任何手動調整或手動引數設定·✘◕。可同時測定zui多5層◕✘·▩₪、20種元素·✘◕。資料統計報告功能允許使用者自定義多媒體分析報告格式◕✘,以滿足您特定的分析報告格式要求;如在分析報告中插入資料圖表◕✘·▩₪、測定位置的圖象等·✘◕。統計功能提供資料平均值◕✘·▩₪、誤差分析◕✘·▩₪、zui大值◕✘·▩₪、zui小值◕✘·▩₪、資料變動範圍◕✘·▩₪、相對偏差◕✘·▩₪、UCL(控制上限)◕✘·▩₪、LCL(控制下限)◕✘·▩₪、CpK圖等多種資料分析模式·✘◕。

     MAXXI5系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀◕✘·▩₪、各種尺寸的樣品;並且測量點zui小可達0.06*0.06毫米·✘◕。

        MAXXI5系列採用開槽式樣品室◕✘,它可提供二種規格的樣品臺供使用者選用◕✘,分別為✘│•↟│:

? 標準手動樣品臺✘│•↟│:XY軸手動控制◕✘·▩₪、Z軸自動控制·✘◕。
? 程控樣品臺✘│•↟│:XYZ軸程式控制·✘◕。
        X-RAY射線鍍層測厚儀 牛津儀器                

MAXXI 5主要技術規格如下✘│•↟│:

No. 主要規格 規格描述
1 激發系統 垂直從上至下照式光學系統
  牛津原產空冷式微聚焦型X射線管◕✘,Be窗
  標準靶材✘│•↟│: W
  功率✘│•↟│:50W(4-50kV◕✘,0-1.0mA)-標準
功率可程式設計控制
  裝備有安全防射線光閘

2 截譜技術 提供先進的元素截譜技術◕✘,可分辨出相憐元素的訊號◕✘,如Cu/Ni等元素◕✘,無需配置濾光片◕✘,從而達到最佳化訊號強度的功能·✘◕。
3 準直器程控交換系統 zui多可同時裝配4種規格的準直器◕✘,程式切換控制
  多種規格尺寸準直器任選✘│•↟│:0.3mm 或0.5mm或多準直器系統
-0.06 x 0.06mm, 0.05 x 0.15mm, 0.1mm,0.2mm Ø
4 測量斑點尺寸 在35mm聚焦距離時◕✘,zui大測量斑點尺寸為✘│•↟│:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)

5 X射線探測系統 封氣正比計數器
  裝備有峰漂移自動校正功能的高速訊號處理電路
6 樣品室  
 -樣品室結構 開槽式樣品室 
 -樣品臺尺寸 500mm x600mm(手動臺) 300mm x250mm(自動臺)
 -XY軸程控移動範圍 標準✘│•↟│:300 x 250mm
 -Z軸程控移動高度 170mm 程控平臺◕✘, 170mm
手動平臺◕✘,  350mm
 -XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選✘│•↟│:XYZ三軸程式控制◕✘·▩₪、XY軸手動控制和Z軸程式控制◕✘·▩₪、XYZ三軸手動控制
 -樣品觀察系統 高分辨◕✘·▩₪、彩色◕✘·▩₪、實時CCD觀察系統◕✘,標準放大倍數為20倍·✘◕。
  鐳射輔助定位功能
  可變焦距控制功能和固定焦距控制功能(選配)
  光學自動聚焦功能
7 計算機系統配置 德國隨主機配置電腦主機◕✘,配置不低於2048道連續近處理ADC(數模轉換器)◕✘,計算機壓縮為512個通道·✘◕。臺式或直立式機箱電腦先進的中央處理器◕✘,例如IN Pentium or AMD Athlon·✘◕。HDD, DVD-ROM, RAM,鍵盤◕✘,滑鼠

8 分析應用軟體 作業系統✘│•↟│:Windows7.0中文平臺
分析軟體包✘│•↟│:X-MasteR FP軟體包
 -無標樣分析程式 Fun- MasteR
應用程式嚮導·✘◕。在無標樣情況下使用基本引數法生成厚度測量應用·✘◕。簡單◕✘,三步模式建立一個新的應用◕✘,無需使用標準樣品·✘◕。避免大量◕✘,昂貴的厚度標準片·✘◕。

 -測厚範圍 可測定厚度範圍✘│•↟│:取決於您的具體應用·✘◕。不同元素不同應用裝置Fun-MasteR提示厚度測試範圍
 -基本分析功能 無標樣檢量線測厚◕✘,可採用一點或多點標準樣品自動進行基本引數方法校正·✘◕。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品·✘◕。
  樣品種類✘│•↟│:鍍層◕✘·▩₪、塗層◕✘·▩₪、薄膜◕✘·▩₪、液體(鍍液中的元素含量)
  可檢測元素範圍✘│•↟│:Ti22 – U92
  可同時測定5層/20種元素/共存元素校正
  組成分析時◕✘,可同時測定20種元素
  貴金屬檢測◕✘,如Au karat評價(選配)
  材料和合金元素分析
  材料鑑別和分類檢測(選配)
  液體樣品分析◕✘,如鍍液中的金屬元素含量(選配)
  元素光譜定性分析
 -調整和校正功能 系統自動調整和校正功能✘│•↟│:校正X射線管◕✘·▩₪、探測器和電子線路的變化對分析結果的影響◕✘,自動消除系統漂移
  譜峰計數時◕✘,峰漂移自動校正功能
  譜峰死時間自動校正功能
  譜峰脈衝堆積自動剔除功能
  標準樣品和實測樣品間◕✘,密度校正功能
  譜峰重疊剝離和峰形擬合計算
 -測量自動化功能 滑鼠啟用測量模式✘│•↟│:“Point and Shoot”
  多點自動測量模式✘│•↟│:多點順序和重複測量模式
  自動對焦功能
 -樣品臺程控功能 可透過滑鼠或是遙控杆控制XYZ軸◕✘,可透過XYZ-Stage設定多
點測試程式·✘◕。
 -統計計算功能 平均值◕✘·▩₪、標準偏差◕✘·▩₪、相對標準偏差◕✘·▩₪、zui大值◕✘·▩₪、zui小值◕✘·▩₪、資料變動範圍◕✘·▩₪、CP◕✘·▩₪、CPK◕✘·▩₪、控制上限圖◕✘·▩₪、控制下限圖
  資料庫儲存功能◕✘,可儲存帶樣品影象的Word報告◕✘,模板客戶可自定義·✘◕。
  任選軟體✘│•↟│:統計報告編輯器允許使用者自定義多媒體報告書
 -系統安全監測功能 Z軸保護感測器
  樣品室門開閉感測器
  作業系統多級密碼作業系統✘│•↟│:操作員◕✘·▩₪、工程師

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